宜特科技(Integrated Service Technology；iST)宣布其材料分析检测技术突破10奈米制程，不仅可协助多家客户在先进制程产品上完成TEM分析与验证，其技术能量更深获IEEE半导体组件故障分析领域权威组织IPFA肯定，于会议期间发表最新研究成果…

立锜科技(Richtek Technoloy)与宜特科技(Integrated Service Technology；iST)宣布一项 MEMS 检测合作成果，双方针对立锜积极开发的 MEMS G-Sensor 提出最佳分析除错解决方案…