本篇宜特小学堂文章将探讨X-ray对电子组件造成的电气故障模式、关键测试变量，以及X-ray辐射总电离剂量（TID）测试最终报告内容，跟各位分享如何透过宜特的「寄生辐射剂量沉积验证平台」，有效预防潜在故障风险。

车用功率组件 验证标准日益严格，随着电动车组件电压与功率的提升，产品可靠度的挑战也随之增加。繁杂的国际规范，该如何掌握？是否有适用于高电压高功率产品的完整验证解决方案？接下来的宜特小学堂将结合宜特科技30年来的丰富实务经验，归纳出客户在研发过程中最常遇到的两大核心问题…

当TEM/EDS分析涉及碳、氮、氧等轻元素，若无特殊校正技术，成分分析的准确性将难以保证。本文介绍自我校正技术，透过参考相修正EDS数据，大幅提升氧化物、氮化物等分析的准确度，并以GaN薄膜案例验证其应用成效…

切错点、接错线，让你胃食道逆流吗？本期宜特小学堂，带您一次掌握FIB（Focused Ion Beam）电路修补全攻略！帮助工程师跳脱debug地狱，高效完成设计验证。

A14工艺即将问世，随着半导体组件尺寸微缩，原子探针断层扫描仪（APT）成为新兴的材料分析技术，APT的原理机制究竟是什么？而APT针尖型的样品又该如何制备呢？