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by admin
想提升第三类半导体轻元素准确度?必学TEM/EDS定量分析自我校正
2025-03-18

当TEM/EDS分析涉及碳、氮、氧等轻元素,若无特殊校正技术,成分分析的准确性将难以保证。本文介绍自我校正技术,透过参考相修正EDS数据,大幅提升氧化物、氮化物等分析的准确度,并以GaN薄膜案例验证其应用成效…

1 Line 2 Cut该接哪条、切哪条?芯片设计FIB电路修补全攻略
2025-02-18

切错点、接错线,让你胃食道逆流吗?本期宜特小学堂,带您一次掌握FIB(Focused Ion Beam)电路修补全攻略!帮助工程师跳脱debug地狱,高效完成设计验证。

突破A14先进工艺挑战 APT如何引领材料分析新时代
2025-01-07

A14工艺即将问世,随着半导体组件尺寸微缩,原子探针断层扫描仪(APT)成为新兴的材料分析技术,APT的原理机制究竟是什么?而APT针尖型的样品又该如何制备呢?

先进工艺芯片可靠性过不了 竟是晶圆切割问题 该如何解决
2024-11-05

在半导体工艺中,您是否遇到过传统晶圆切割机,在处理高硬度或脆性材料时,出现切割不均或边缘破损的情况

AI高速信号传输时代来临!宜特最新解决方案助您抢占市场先机
2024-10-09

随着 AI 技术不断进步,如何透过最新AI高速信号全面解决方案,确保产品顺利通过高速规格验证,在这波技术浪潮中保持领先?