首頁 技术文库 技术文库 2017-05-28by admin 「光」革新突破半导体极限 硅光子芯片即将上阵 2024-09-05 2020年Intel就已提出硅光子将是先进封装发展关键,如今四年过去,硅光子技术已真正成为半导体产业的关键研发核心,并预计两年后将完成整合正式上阵。面对这次的「电」去「光」来新革命,您准备好了吗? Read More 材料分析 从地面到太空 商用卫星电子零组件必经的测试 2024-08-15 全球太空经济在2040年预计突破1兆美元,COTS电子零组件要上太空,需经过哪些验证测试?本期宜特小学堂,从火箭发射环境、太空环境,逐一说明COTS欲跨入太空应用将面临的挑战和验证测试方式… Read More 太空环境测试 AI应用的关键SRAM失效了 异常真因该怎么找呢 2024-08-01 SRAM 失效分析 是一大挑战! 碍于SRAM结构密集且重复性高,如何分析出异常真因着实不易。SRAM对于发展 AI 人工智能所需的高效运算及机器学习至关重要。但当IC内部的SRAM出现问题,如何抽丝剥茧找出真因? Read More 失效分析 TEM EDS分析失准?原来是轻元素吸收效应在作怪 2024-07-16 TEM EDS轻元素,如碳、氮、氧等,容易导致TEM/EDS成份分析失真?原来都是低能量X光吸收效应在捣蛋。了解并克服这一问题,对于提高组件可靠性和成份分析的准确性至关重要… Read More 鲍伯开讲、宜特材料讲堂 EDS能谱中的伪讯号跟能峰重迭 如何聪明判读 2024-06-25 在半导体制程接近极限之际,材料分析成为突破瓶颈的关键,业界经常使用电子显微镜(TEM)搭配X光能量散布能谱仪(EDS)解析微奈米材料。但EDS的能量分辨率较低,容易造成能峰重迭和伪讯号两大问题,该如何判读EDS能谱,才能解析出正确的材料成分分析结果? Read More 鲍伯开讲、宜特材料讲堂 AI芯片设计面临的三大可靠性挑战 如何突破 2024-06-18 AI芯片高效能、高带宽或低耗电等特性,不仅会影响AI芯片的效能与寿命,甚至,也造成可靠性试验设计手法设备等,面临极大挑战。宜特为您归纳出AI芯片最常见的三大挑战与解决办法,将会逐一说明。 Read More 可靠度设计验证 1 2 3 4 … 17