随着人工智能 (AI)、5G、大数据、物联网 (IoT) 、边缘运算、高效能运算与电动车的广泛应用，让电子被动组件的使用越来越多。因此电子产品的硬设备可靠度能力，也越来越受到业界所重视。然而在全球日趋严重的空气污染威胁下，无论是在室内或是室外的空气质量，也都将会直接或间接地影响电子产品的使用寿命。为协助客户确保被动组件产品质量，因此宜特今宣布(8/17)推出被动组件硫化腐蚀失效分析，期能让客户的产品顺利上市并减少客退的发生。

宜特表示，电子产品容易受到环境中的腐蚀性气体、水分、盐分、污染物、和悬浮微粒的影响，尤其是在含硫化气体污染高的环境下，被动组件更容易遭受到硫化腐蚀，进而导致设备电器开路故障的风险。例如，表面贴装电阻和铁氧体磁珠，通常使用银作为内层电极的主要材料。但银容易被硫腐蚀，逐渐转化为硫化银，由于硫化银不导电，导致电阻值增加，因此表面贴装电阻的电极两端之间，没有电流流过引起电性的开路失效。

为解决此一窘境，电子组件行业协会 (Electronic Components Industry Association; ECIA) 于 2017年2月发布了一项标准- ANSI/EIA-977 试验标准，定义了电子被动组件对环境硫化物的敏感性影响的试验选项。这类的敏感性导致银在液态或气态硫化合物存在的环境下发生腐蚀，可能导致组件的失效。ANSI/EIA-977是目前业界唯一针对被电子动组件进行抗硫试验的国际标准，也其抗硫化腐蚀能力判别的基本必要条件。

宜特进一步指出，为了提高抗硫化腐蚀的稳健性，许多供货商提供采用金与银钯基材的内电极设计（贵金属）之抗硫电阻（Anti-Sulfur Resistor; ASR）以及其他解决方案，包括保护覆盖层、奈米银线的电极和反向型结构的设计。

宜特表示，在全球日趋严重的空气污染威胁下，下一代电子设备不仅需要高性能，还需足以有效抵抗恶劣环境的能力。宜特提供各种抗硫化测试的服务，并且结合 ANSI/ISA 71.04-2013标准在试验过程中评估此加速试验在G2或G3环境腐蚀等级的仿真年限；亦可结合实际终端环境的腐蚀程度并采以客制化的实验设计协助评估产品抗硫化腐蚀的寿命验证服务，期能让客户的产品顺利上市并减少客退的发生。

关于宜特科技

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