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by admin
【参展&论文发表】宜特在ECTC 2019
2019-05-20

今年宜特科技將於ECTC大会发表最新论文,並于现场设置摊位(号码527)。宜特的最新验证技术,也通过大会技术委员会的严格审核于会议中发表。此技术将应用于人工智能物联网(AIoT)的穿戴式软性混合电子验证,敬邀各位业界同好与先进前往参观聆听与交流…

【参展讯息】宜特参加台积电 2019 Symposium
2019-04-26

iST宜特科技将于2019年4月23日参加台积电于美国加州Santa Clara举办的2019 Symposium,如果您当天也在现场,我们的同仁相当期待能有与您交流的机会。

【论文发表】宜特科技在IMPACT 2018
2018-10-16

宜特科技将于2018年10月24日-26日在南港展览馆举行之IC封装与电路板盛会IMPACT 2018中,敬邀各位业界同好与先进前往参观聆听与交流。

【参展讯息】宜特参加台积电 2018 OIP Ecosystem Forum
2018-10-03

iST宜特科技将于2018年10月3日参加台积电于美国加州Santa Clara举办的2018 Open Innovation Platform Ecosystem Forum,如果您当天也在现场,我们的同仁相当期待能有与您交流的机会。

【参展&论坛】宜特将于SEMICON 2018和您见面
2018-09-25

台湾半导体产业的年度盛事-SEMICON TAIWAN将在2018/9/5 – 9/7于台北南港展出。宜特科技除了在现场设置摊位(号码K2789),更将在TechXPOT创新技术发表会中,由材料分析界的翘楚-鲍忠兴博士,为大家带来精彩的演讲…

【宜特論壇】 IC失效分析研讨会 强势来袭
2018-08-17

如何选择正确分析工具和分析手法,缩短分析时程;如何使用非破坏性分析,保留失效真相并厘清缺陷责任;如何预防失效再发生?9/20(四)IC失效分析研讨会,与您共同探讨…

【论文发表】宜特科技将于IPFA 2018发表新技术
2018-07-16

今年7月16日到7月19日,宜特材料分析TEM工程博士林敬钧获邀至IPFA发表最新研究成果。此成果不但可提升轻元素影像对比,同时也可避免试片受到辐射损害…

【宜特技术论坛】如何正确解读TEM的影像及数据
2018-06-28

继AEC-Q系列可靠性系列后,半导体材料分析技术论坛又将来袭!本次技术论坛,旨在与客户共同探讨,如何在半导体材料分析应用上,快速找到正确、有效又及时的解法。

【参展&论文发表】宜特在ECTC 2018
2018-06-01

宜特最新验证技术,通过ECTC大会技术委员会的严格审核于会议中发表,此技术将应用于次世代手机 (5G)与AR/VR/MR之芯片封装验证。更将于现场设置摊位(号码712)…