半导体产业在中国已然成为战略性、基础性和先导性产业，深受国家及各地方政府与企业重点支持。
整个集成电路供应链验证及分析中，材料分析占着重要一环，当客户处于理论研究、新产品开发、工艺优化、失效分析、质量管控等过程中遇到的一系列材料显微表征和分析的问题时，通过高质量、高效率的测试分析服务，帮助客户解决问题，以期得以快速提升其产品品质及竞争力。
宜特（上海）检测技术于2016年建置了材料分析实验室，以客户需求为主导就近服务客户，现宜特检测特别安排透射式电镜(TEM)分析技术与材料分析暨表面分析技术研讨会，期望协助客户在半导体材料分析应用上，快速找到正确、有效又及时的解法。
8月2日下午 13:00~17:00，在宜特浦东实验室，欢迎旧雨新知莅临指导交流！

鲍忠兴 博士

现任职: 宜特科技材料分析专家

经 历:毕业于美国亚利桑那州立大学，具有超25年半导体材料分析学界与业界经验，台湾显微镜学会监事。
于国内外学术期刊上发表超过50篇论文，其著作《近代穿透式电镜实务》，是国内TEM从业人员的必备工具书，半导体材料分析相关著作有:
1. 鲍忠兴•刘思谦，「近代穿透式电子显微镜实务」，沧海书局出版，台中，2008年4月初版，2012年11月二版。
2. 鲍忠兴， “应用于集成电路制程改善的TEM/STEM分析技术” 电子信息19卷1期，p.28-36，June (2013).

• 参会对象：晶圆厂 、设备制造商等研发与可靠性质量相关部门
• 研讨会时间：2018年8月2日(四)；下午1:00-4:30
• 研讨会地点：上海浦东实验室(上海市浦东新区金丰路455号)
• 报名方式：请点击在线报名，即日起额满为止，欲报从速,如有问题,可与负责贵司业务联系,或拨打 800-988-0501
• 参加费用：免费（携带名片），一家公司限2名（若人数未满则无此限制），报名成功确认以主办单位回复为主。

• 名额有限，敬请尽早注册报名。
• 主办单位保留报名资格的最后审核权利，并于活动前一周以E-mail寄发「课前通知」，以示您的参加资格。
• 未能准时报到或当天无法出席的学员，恕无法为您保留讲义与座位，也无法提供讲义电子档案。
• 若因不可预测的突发因素，主办单位保留变更论坛时间、议程内容及相关事项的权利。
• 现场报名的学员，主办单位视现场状况保有开放进场与否的权利。