活动日期：2025年11月18日（星期二）– 11月19日（星期三）
活动地点：美国加州 Pasadena
宜特科技将于 2025年11月18日至19日 参加全球失效分析领域最具指标性的国际研讨会与展览——ISTFA 2025（International Symposium for Testing and Failure Analysis）。
本届活动将在美国加州 Pasadena 隆重举行，集结全球半导体、先进封装、材料科技与测试分析产业的专业人士，共同分享最新失效分析技术、研究成果与产业洞察。
在 ISTFA 2025，宜特科技（iST）将展示我们在 故障分析、封装验证、材料分析、可靠度测试与电性验证 等领域的完整验测能力，并分享我们在 先进封装与异质整合 之可靠度与失效分析上的实务经验。
宜特凭借长期深耕的工程能力、跨国据点与全方位实验室服务，协助客户快速定位问题根因、提升产品可靠度、加速上市进程。
诚挚邀请您莅临会场，与我们面对面交流最新技术需求与解决方案。
★ 展览时间：2025年11月18日（二）– 11月19日（三）
★ 展览地点：Pasadena Convention Center
★ 摊位号码：#405
※ 本活动入场方式依大会规定，详情请参考：ISTFA 2025 官方网站