发布尔日期:2025/6/10
发布单位:iST宜特
面对高速运算应用不断推升的验证挑战,宜特今宣布(6/10),领先业界,推出 OCP NIC 3.0 PCIe Gen6 测试治具,并同步提供完整测试解决方案,协助客户抢占新世代数据传输市场先机。
图说: 宜特领先业界,推出 PCIe 6.0 测试治具与解决方案。
宜特观察到,随着人工智能(AI)及高效能运算(HPC)快速普及,数据中心规模持续扩张,AI 模型训练对信道传输速度与带宽的需求也大幅增加。从采用 x86 架构的 Intel Diamond Rapids 与 AMD Venice SP7,皆支持 PCIe 6.0(外围组件互连快速信道)技术,甚至于具备低成本、高效能特性的ARM架构有可能也会陆续跟进。
为协助客户提前因应未来验证需求,宜特已携手合作伙伴完成 PCIe 6.0 非标准接口测试治具的开发,不仅符合外围组件互连标准协会(PCI-SIG)制定的带宽标准,也可客制支持各式高速传输应用场景,为客户提供最全面的验证支持。
宜特于2025年第一季即完成 OCP NIC 3.0 PCIe Gen6 测试治具开发,第二季开始进入正式量产。该治具在阻抗与损耗控制方面皆达协会标准,并依照 PCI-SIG 校验流程完成测试,可真实呈现待测物的讯号表现。后续也将陆续推出如 EDSFF 1C/2C、M.2 等不同接口的测试治具,扩大应用范围。
宜特信号测试事业处处长王尚杰表示:「目前已有客户提出 OCP NIC 3.0 PCIe Gen6 的测试需求。我们提前掌握市场规格,率先开发非标准 OCP 3.0 接口,提供完整的 PCIe 6.0 验证解决方案,协助客户快速确认产品是否符合设计预期。也与客户共同评估是否需额外配置复位时器(Re-Timer)或提升 PCB材料等级。」
王尚杰进一步指出,为持续满足客户高阶应用需求,宜特已在2024年超前部署,投入可支持 PCIe 6.0 及以太网络(Ethernet)400/800G 的测试解决方案开发。2025年初,更携手合作伙伴进行治具联合开发,确保客户产品设计质量、降低开发成本风险。针对未来市场动能,公司亦将超前评估以太网络 1.6T 的测试规格与解决方案可行性。
目前,宜特已全面就绪,迎接 PCIe 6.0 测试服务挑战。不仅提供完整测试环境,更能应用于IC芯片、系统端与周边装置等相关领域,协助客户强化高速运算产品的稳定性与效能,共同推动 AI 及数据中心产业的持续升级与发展。
关于宜特科技
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