全球车用电子可靠性技术交流正式延伸至亚洲。AEC（Automotive Electronics Council）首届亚洲车用电子可靠性研讨会（Automotive Electronics Reliability Workshop）于10月14日至15日在新竹举行，由宜特科技担任在地主办（Host），将AEC长期在欧美举办的技术交流平台带进亚洲，邀集来自全球车用半导体、电子与零组件产业的技术专家，共同探讨车用电子可靠性与质量验证的重要议题。

本次两日研讨会涵盖车用电子产品的认证与功能安全（Qualification & Functional Safety）、问题解决与失效分析（Problem Solving & Failure Analysis）、静电放电与电气过应力（ESD & EOS）、统计技术（Statistical Techniques）、零缺陷（Zero Defects）及延伸任务剖面（Extended Mission Profiles）等主题，从组件验证、失效分析，到长时间与不同使用条件下的可靠性挑战，深入交流车用电子产业所关注的关键课题。

宜特科技此次也深度参与研讨会议程。由宜特科技资深副总经理 曾劭钧（Allan Tseng）代表致词，为AEC亚洲首届研讨会揭开序幕；宜特科技资深经理 陈文贤（Dave Tan）担任其中两场议程主持人（Moderator），参与技术议程的交流与主持，与来自不同国际企业的技术专家进行深入讨论。

本次研讨会汇聚来自 NXP Semiconductors、Infineon Technologies、Micron Technology、TDK Electronics、Murata、Nexperia、Harman、X-FAB、YAGEO Group 等国际企业的技术专家，分享车用电子可靠度、失效分析与质量验证等领域的实务经验与技术观点。

对宜特而言，这次参与的不只是活动主办，更是站在国际车用电子可靠性技术交流的第一线。随着车用电子朝高效能、高整合与智能化发展，产品面对的可靠度要求也日益严格，从芯片、组件到实际应用，各阶段的验证与失效分析都需要更深入的技术整合。

透过此次AEC首届亚洲研讨会，宜特也持续连结国际可靠性技术平台，让全球车用电子产业的技术经验在亚洲交流，进一步深化台湾与国际车用半导体产业的技术连结。

关于宜特科技

始创于1994年，iST宜特从 IC 线路除错及修改起家，逐年拓展新服务，包括失效分析、可靠性验证、材料分析、讯号测试、化学分析与各类辅导等，客群囊括电子产业上游 IC 设计至中下游成品端，并陆续建置半导体先进工藝/先进封装验证平台、车用电子验证平台、5G/物联网/车联网/AI验证平台、太空环境测试实验室，提供全方位完整验证分析服务。