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by admin
【新电子杂志】材料热分析重中之重 精熟热特性强固先进封装
2023-09-01

随着半导体技术发展遇到的物理限制与瓶颈,摩尔定律(Moore’s Law) 在半导体制程上渐渐不再成立,加上晶体管微缩工艺的成本不断提高,在寻求技术发展与成本的平衡之中,「先进封装」进而带来了有效的解决方案…

【新电子杂志】可靠度分析/设备解方助攻 3D封装技术挑战过关斩将
2023-09-01

3D封装有效提高芯片效能,但仍要克服散热及翘曲等技术瓶颈。从材料的角度分析,材料的选择与整合方式都会影响芯片的散热能力。在芯片堆栈时,如果两片晶圆翘曲的方向不一致,就会难以执行…

【新电子杂志】解析新世代化合物半导体特性 超宽能隙材料热导性更惊艳
2023-07-11

随着电能需求的大增,高电压、大电流、传输快、散热佳是未来新世代材料的必要条件。基本上,要能承受较高的电压条件,即是半导体材料的能隙(Eg, Energy Band gap)要够大,才可承受更高的临界场(Critical electric field),以达到稳定快速又更高功率的转换与输出。要如何量得能隙的数值呢?宜特材料分析实验室建议…

【新电子杂志】数码技术搭配合规文化 永续是考验更是商机
2023-06-15

ESG永续发展已经从风险管理演变为创新与机会的驱动力,由于其涵盖的面相非常广泛,不只是在环境领域,还包含了社会与公司治理层面,如何在大框架下,找出施行重点,并且针对重点提升ESG相关绩效,是现今多数企业正面临的挑战…

【新电子杂志】从材料晶体结构强化先进封装 EBSD精准解析掌握封装可靠度
2023-05-01

随着先进工艺的发展,芯片尺寸已经接近1奈米的物理极限,摩尔定律正步入尾声,而先进封装技术已成为下一个关键发展方向。尤其是具备高度芯片整合能力的「异质整合」封装技术,已成为超越摩尔定律的重要技术之一。但是,异质整合的先进封装技术,也面临到许多可靠度上的疑难杂症,需要进行前期的验证分析以确认研发质量…

【新电子杂志】自动量测精准分析先进工艺参数 TEM量测助2nm工艺不卡关
2023-04-20

当半导体工艺逐渐缩小至3nm甚至2nm节点(Node),精准量测每个关键参数,并以大数据(Big Data)技术优化生产方法,对于改善工艺良率至关重要。但传统手动量测方法效率低、误差大,成本又高。因此,唯有透过自动量测,才能快狠准取得正确参数…

【新通讯组件杂志】卫星组件点石成金术 完整测试验证成就太空梦
2023-03-20

iPhone 14开启卫星直连服务,2023正式发表的Android 14也传言将导入相关服务,低轨道卫星产业化如火如荼,台湾资通讯通讯产业摩拳擦掌,希望在产业链中占有一席之地,然而航天产业对于电子组件的要求高,几乎是所有应用领域最严苛的,如何取得…

【新电子杂志】堆栈式CIS故障分析 多管齐下解决CIS异常
2023-03-01

CIS产品从早期数十万像素,一路朝亿级像素迈进,端有赖于摩尔定律(Moore’s Law)在半导体微缩制程地演进,使得讯号处理能力显著提升。然而同时,却也使得这类CIS产品在研发阶段若遇到异常(Defect)现象时,相关故障分析困难度大大提升…

【新电子杂志】三防胶材带来硫化腐蚀风险 验证平台守护PCB质量
2023-02-01

当电子设备需要在恶劣的环境运作时,选择三防胶的涂布通常是组装、系统等厂商普遍采用的解决方案。本期的宜特小学堂,将介绍电子产品腐蚀的解决方案-三防胶,并剖析为何已采用三防胶涂布的电子产品仍然发生硫化腐蚀失效?…