首頁 媒体报导 媒体报导 2017-06-05by admin 【新电子杂志】精准揪出工艺缺陷 奈米电性量测明察秋毫 2023-01-01 先进工艺中的故障分析,对于研发与产能来说更是至关重大,但组件尺寸越做越小,如何在仅有数奈米的微小尺度下,进行晶体管的特性量测以及缺陷处定位则成为了一大难题… Read More 新电子杂志 【新电子杂志】采用TEM分析晶体结构 AlGaN磊晶光学性质再强化 2022-12-01 以Ga2O3氧化镓为主的第四代半导体跃上台面,将成为下一个明日之星,如何鉴定呢? 本文将呈现如何应用宜特材料分析实验室的穿透式电子显微镜(TEM)分析技术鉴定俗称第四代半导体-氧化镓(Ga2O3)磊晶层的晶体结构,晶体形貌与组成… Read More 新电子杂志 【新电子杂志】取得电路布局 避免侵权 半导体逆向工程知己知彼 2022-11-01 逆向工程 (Reverse Engineering),对于不熟悉此工程的人,常常将之与黑客、盗版、窃盗连结在一起。但其实不尽然,随着专利战盛行,逆向工程对于许多企业而言,不仅是用来保护自身的专利,确保竞争对手不能非法使用这些专利,同时也保护自己不会侵犯到竞争对手的专利… Read More 新电子杂志 【新电子杂志】车用芯片工艺稽核不可轻忽 VDA 6.3强化供应链品管 2022-10-07 大部分的企业欲打入车用供应链,多数都认识IATF 16949,为何还需要导入VDA 6.3? 如果您的产品或服务供货给德国汽车产业或VDA的成员(常见成员包括BMW、Audi、BOSCH 等近六百个成员),那就必须符合 VDA 各项系列标准…. Read More 新电子杂志 【新电子杂志】电动/自驾挑战待解 车用芯片供应链灵活应万变 2022-10-07 车用芯片缺货潮尚未完全缓解,加上汽车技术朝向电气化跟自驾演进的趋势下,整车所需的芯片数量大幅上升,现有的芯片产能还未能满足市场需求。同时车用芯片的功能与算力不断增加,封装技术变得更为复杂,验证流程也因此拉长,发展自驾与电动技术过程中挑战重重… Read More 新电子杂志 【新电子杂志】沉着应对断链危机 车用芯片供应链突围 2022-10-07 车用芯片供应链历经疫情冲击,芯片缺货的状况尚未全数缓解,在芯片供不应求的情况下,车用芯片需要长时间验证的特性,为汽车供应链带来更艰难的挑战。为此,芯片供货商透过优化整体芯片开发流程,确保在不压缩验证时间的前提下,提高芯片生产速度… Read More 新电子杂志 【新电子杂志】发掘工艺可疑缺陷 芯片切片把关样品功能性测试 2022-09-30 芯片设计后,在进行后续的样品功能性测试、可靠度测试,或故障分析除错前,必须针对待测样品做样品制备前处理,透过芯片切片方式,进行断面/横截面观察。然而观察截面的方式有好多种,该如何选择哪一种切片手法,才能符合您欲观察的样品型态呢?… Read More 新电子杂志 【新电子杂志】拆解先进封装芯片失效原因 强化Dsiay Chian后失效分析 2022-07-07 板阶可靠度是国际上常用来验证焊点强度的实验手法,透过将仿真组件组装于PCB,重现出可能会发生的锡球焊接问题。但是,当进行完一系列的板阶可靠度验证后,结果居然Fail?!该透过哪些步骤进行故障分析,才能找到阻值变化的原因? … Read More 新电子杂志 【新电子杂志】高速传输需求增 USB Thunderbolt 加速布局 2018-02-08 高速传输应用大增,成为各项传输标准更新的重要推手。不仅PCle近期发布新标准,USB也将释出3.2版本;而致力拓展普及率的Thunderbolt,虽没有更新标准,但也积极进行… Read More 新电子杂志 1 2 3 4