如果研发工程师的目标，仅仅是为了「拿到Pass结案」，就完全丧失了可靠度测试的初衷。做测试的真正目的，是要回答一个最核心的课题：「所开发的产品到底何时失效？以及为何失效？」

HAST PCB 短路？工程师却以为是 IC 故障！PCB 不再只是电子组件的载具，而是决定系统效能与长期可靠度的关键核心。本篇将聚焦于 HAST 测试后常见的 PCB 异常失效模式，并提出实务上的预防建议…

AEC-Q006 Spec 车用 IC 铜线封装验证流程大升级，长达 18 页的AEC-Q006 改版条文太烧脑？快速掌握新版 AEC-Q006 四大关键变更…

挑战硅霸权？TGV玻璃基板技术因优异的高频与低损耗特性，广泛应用于5G、AIoT、车用雷达等领域。然而，业界在推动 TGV 技术导入时，却频繁遇到工艺良率、封装机械强度、以及材料热失配等问题。该如何找出失效真因，提升良率呢？

本文深入探讨EBSD在TGV工艺中的应用，解析晶粒取向、晶界特性与残留应力，揭示如何优化微结构、减少裂纹风险，全面提升高阶封装可靠性…

随着AI芯片、高效能运算（HPC）与CoWoS等先进封装技术快速发展，工艺稳定与可靠性要求日益提升，如何选对表面形貌分析手法，避免误判与良率损失…