（一）振动测试

卫星在地面制造组装，需考虑温度、湿度、粉尘污染等影响；组装好的卫星搭乘火箭从地面发射，首先会承受火箭的剧烈振动，振动测试机可以在地面模拟火箭发射，以垂直与水平方向进行振动测试。不同的火箭有不同的振动大小，例如美国SpaceX猎鹰重型火箭（图三）的振动测试参数，以每秒钟10~2,000次的振动频率，重力加速度到几十倍，振动测试（图四）可用来确认卫星或电子零组件在经历发射过程仍能正常运作。

（二）音震测试

火箭发射过程也会产生音震（Acoustic Noise），尤其是面积大且薄的零件容易受音震影响，例如太阳能电池板，天线面板等。音震可能使这些零件破裂、机构损坏，功能异常。音震舱则是用来模拟火箭所产生的音震，测试时将液态氮汽化，此时液态氮体积会瞬间膨胀数百倍产生巨大压力，再经由喇叭将气流动能转为声波导入音震舱，测试音震舱内的卫星或零件（图五）。

（三）冲击测试

火箭离开地面抵达一定的高度时，各节火箭引擎开始陆续分离，接着整流罩展开释放卫星入轨（图六），这些过程都会产生冲击（Shock），对卫星内部零件的焊接点、芯片，或其他脆性材料都是严苛的考验。因此也需要在地面先进行冲击测试（图七），了解卫星与其电子零组件对巨大冲击的耐受程度。

（四）电磁兼容性测试（EMC）

此外，因各种电子零组件集中在火箭狭小空间内，卫星跟火箭之间的电磁干扰可能会影响任务，因此卫星在发射前也需经过电磁兼容性测试（EMC）（图八），确保卫星所使用的电子零组件不会与火箭之间互相干扰。

（一）热真空循环测试（Thermal Vacuum Cycling Test）

低轨卫星以每秒七公里的时速飞行，大约九十分钟绕行地球一圈，卫星绕轨飞行处于真空环境，同时也会面临温差挑战，当卫星被太阳正面照射时，其温度高达摄氏120度，远离太阳时，温度可能低到零下120度。另外，真空环境可能使电子零组件因散热不良烧毁，真空低压也会造成零组件材料分解、腔体泄漏（leak），或是零组件释气（Outgassing）产生污染。

热真空循环测试（Thermal Vacuum Cycling Test）（图九）可模拟太空环境真空状态与温度变化，测试时将卫星或电子零组件架设于极低压力的真空舱内，再经设备以辐射、传导方式对卫星或电子零组件升降温以仿真太阳照射，此时卫星或电子零组件处于通电运作状态，须实时监控观察其功能是否正常。热真空循环通常测试为期一周甚至更长，也是卫星或电子零组件常见的失效项目。

（二） 辐射测试

少了大气层的保护，电子零组件在太空环境直接面对辐射的冲击。以地球轨道而言，辐射环境包含辐射带（Van Allen Belts）、银河宇宙射线（Galactic Cosmic Rays，GCR）以及太阳高能粒子（Solar Energetic Particles，SEP）（图十），这些辐射环境充斥大量的电子、质子，以及少数的重离子（Heavy Ion）等，若击中卫星的电子零组件可能造成数据错乱（Upset）、当机，甚至永久性故障（图十一）。卫星在轨道运行寿命短则几个月，长则数十年，卫星在轨道运行时间越长，受辐射冲击影响就越大。

辐射对电子零组件的影响有以下三大类：

1. 总电离剂量效应（Total Ionizing Dose Effect，TID）
电子零组件在太空环境长期累积大量质子与电子辐射是TID效应的主因，TID会造成MOS晶体管Threshold Voltage缓慢飘移，零件漏电因此逐渐增加，漏电严重时则会导致零件烧毁。卫星可视为大型的无线行动装置，依赖太阳能蓄电，电力相当珍贵，若卫星内诸多的电子零件都在漏电，将造成卫星电力不足而失联或失控。

2. 位移损伤效应（Displacement Damage，DD）
质子对电子零组件会产生另一种非辐射效应，称为位移损伤效应（DD），属长期累积大量质子的物理性损伤，质子会将半导体零件内的硅原子打出晶格外，形成半导体的缺陷，零件漏电也会逐渐增加，其中光电零件对DD效应较敏感，例如影像感测组件，DD会造成影像质量降低，另外也会使卫星使用的太阳能电池（Solar Cell）转换效率下降。

3. 单一事件效应（Single Event Effect，SEE）

TID与DD可看成慢性病，是电子零组件长期在轨累积大量质子与电子作用所造成的漏电效应，SEE（图十二）则是属于急性症状，随机发生，难以预测。质子与重离子都会造成电子零组件的SEE效应，而重离子比质子更容易引发SEE，太空环境的重离子数量虽然相对少，但杀伤力强，一颗重离子就可能使电子零组件当机或损坏。

SEE造成的故障可分成Soft ERROR与Hard Error两大类。Soft Error的征状为数据错乱、当机、功能异常等，重启电路可恢复其运作，但若电子零组件对辐射很敏感，当机频率过高则会影响任务执行，因此需以辐射测试评估其事件率（Event Rate）。Hard Error则是永久性故障，例如重离子容易引发半导体零件栓锁（Latch-Up）现象，若没有对应机制，零件可能因大电流烧毁，因此SEL（Single Event Latch-Up）是太空电子零件辐射耐受度最重要的指标之一。

太空环境有各种能量的粒子（质子、电子、重离子…），能量越高的粒子可穿透越厚的物质或外壳。低能量的粒子可被卫星外壳（铝）阻挡，但卫星发射成本主要以重量计价，外壳厚度相当有限（通常为几毫米厚的铝材）；而高能量的粒子则会穿透卫星外壳，影响电子零组件运作，因故使用于太空环境的电子零组件必定会被辐射影响，在上太空前必须经过辐射测试评估其特性。COTS电子零组件，都有一定的抗辐射能力，但是必须经测试了解辐射耐受度是否适用于太空任务需求（图十三）。

COTS电子零组件上太空前必须经过「发射环境测试」，包括模拟火箭发射时所产生的振动、音震、冲击、电磁兼容性测试，以及太空环境热真空循环和辐射测试等（更多的测试项目不在此一一细数），通过这些测试后，更重要的是取得「飞行履历」 （Flight Heritage），将产品发射上太空，若能成功执行各种任务，取得越多飞行履历，产品的身价就越高，太空产业非常重视飞行履历，飞行履历也是产品最佳保证书。