首頁 技术文库 技术文库 2017-05-28by admin 无须开盖、3D封装无碍,轻松侦测失效点 2014-10-07 3D封装产品以往要找到故障点,必须利用切线方式,一层一层做异常排除确认,耗时费工。Thermal EMMI可以帮助您,利用失效点热辐射传导的相位差,预估3D封装的失效点深度(Z轴方向)… Read More 失效分析、Thermal EMMI、Defect