首頁 技术文库

技术文库

首頁 技术文库

技术文库

by admin
什么时机点,适合用3D X-ray找Defect
2017-09-28

宜特继去年引进360度拍摄零死角影像环绕的ZEISS Xradia 520 Versa高分辨率3D X-ray,至今一年多的时间,已替客户解决1023项案件….

可靠性测试后,组件高电阻值异常,失效点如何找
2017-08-17

计算机仿真组件上板应力匹配正常,可靠度实测却过不了,是组件与板材匹配问题?还是封装锡球的耐受度不够?一个以晶圆级芯片尺寸封装(WLCSP)的组件,进行上板可靠度….

透过金属箔片预处理方法设计数据中心环境中硫腐蚀速率
2016-04-12

电子产品发生在PCB上的爬行腐蚀(CREEP CORROSION)现象达到一定程度,将会导致电子产品的失效….

消费性 IC 业如何切入车电领域?解读新版车用 IC 验证AEC-Q100
2016-04-01

车用 IC 的市场相较于 ICT 资通产业的最大差异为市场较为封闭,且前期的开发及验证期长达3年,对台湾/中国 IC 业者Time to market 的运作模式相悖,价值理念也不尽相同,本文将以 AEC-Q100 的 IC 验证规范…