差排轨迹 在芯片制造过程中，是一个相当棘手的问题，这个微小缺陷可能会引发半导体组件的漏电流，进而严重影响组件的可靠性。TEM是目前唯一能观察差排的分析工具…
氮化镓差排 是影响组件功能的一大要素。如何解析差排类型，并将差排的密度控制在一定范围，是第三类半导体发展的重要关键。目前产业中即使能检查出差排密度，但仅有TEM才能解析出差排类型，究竟TEM是运用什么原理来解析的呢?
高阶TEM试片费用高昂，但异质材料堆栈的接合问题偏偏又需要原子级的分析，有没有什么办法兼顾成本和需求？本文将以两案例说明，如何运用傅立叶过滤技术，以相对低的成本提升TEM试片的HRTEM影像质量，探索原子级异质晶体界面分析…
明明是同一张TEM黑白影像，却有截然不同的判读？判读正确，快速改良工艺，拉大和竞争对手的距离。判读错误，引起不必要的恐慌，搞得人心惶惶？在TEM的黑与白之间，究竟存在着什么学问，如何确保自己是站在正确的一方呢？
惯性思维可以让你熟能生巧，但也可能让你在TEM样品制备时，完全走错方向，因此迷失试片中的重要讯息！究竟人类的惯性思维如何错置TEM材料分析的结果…