首頁 媒体报导 媒体报导 2017-06-05by admin 【新电子杂志】解析新世代化合物半导体特性 超宽能隙材料热导性更惊艳 2023-07-11 随着电能需求的大增,高电压、大电流、传输快、散热佳是未来新世代材料的必要条件。基本上,要能承受较高的电压条件,即是半导体材料的能隙(Eg, Energy Band gap)要够大,才可承受更高的临界场(Critical electric field),以达到稳定快速又更高功率的转换与输出。要如何量得能隙的数值呢?宜特材料分析实验室建议… Read More 新电子杂志 【新电子杂志】数码技术搭配合规文化 永续是考验更是商机 2023-06-15 ESG永续发展已经从风险管理演变为创新与机会的驱动力,由于其涵盖的面相非常广泛,不只是在环境领域,还包含了社会与公司治理层面,如何在大框架下,找出施行重点,并且针对重点提升ESG相关绩效,是现今多数企业正面临的挑战… Read More 新电子杂志 【新通讯组件杂志】确保显示器双功能兼容性 Type-C测试须留意五大风险 2023-05-30 欧盟议会正式通过,自2024年底起,强制要求各类于欧盟销售的手机、平板、数字相机等消费性电子产品,都必须统一使用USB Type-C充电接口。市场更传言,下一代苹果旗舰手机iPhone 15系列,也将改用USB Type C传输埠… Read More 新通讯组件杂志 【新电子杂志】从材料晶体结构强化先进封装 EBSD精准解析掌握封装可靠度 2023-05-01 随着先进工艺的发展,芯片尺寸已经接近1奈米的物理极限,摩尔定律正步入尾声,而先进封装技术已成为下一个关键发展方向。尤其是具备高度芯片整合能力的「异质整合」封装技术,已成为超越摩尔定律的重要技术之一。但是,异质整合的先进封装技术,也面临到许多可靠度上的疑难杂症,需要进行前期的验证分析以确认研发质量… Read More 新电子杂志 【新电子杂志】自动量测精准分析先进工艺参数 TEM量测助2nm工艺不卡关 2023-04-20 当半导体工艺逐渐缩小至3nm甚至2nm节点(Node),精准量测每个关键参数,并以大数据(Big Data)技术优化生产方法,对于改善工艺良率至关重要。但传统手动量测方法效率低、误差大,成本又高。因此,唯有透过自动量测,才能快狠准取得正确参数… Read More 新电子杂志 【新通讯组件杂志】卫星组件点石成金术 完整测试验证成就太空梦 2023-03-20 iPhone 14开启卫星直连服务,2023正式发表的Android 14也传言将导入相关服务,低轨道卫星产业化如火如荼,台湾资通讯通讯产业摩拳擦掌,希望在产业链中占有一席之地,然而航天产业对于电子组件的要求高,几乎是所有应用领域最严苛的,如何取得… Read More 新电子杂志 【Digitimes x IC之音】解读半导体景气密码 2023-03-16 宜特很荣幸受到IC之音节目邀请,从宜特的验证分析服务谈到2023年科技产业趋势,本次邀请到可靠度工程处副总经理曾劭钧为您开讲,内容丰富精彩,欢迎前往连结收听喔!… Read More Digitimes x IC之音 【DIGITIMES】Tesla用封装改善散热可能性增 宜特手握AEC会员优势 2023-03-13 Tesla号称要减少碳化硅(SiC)功率组件用量75%,业界认为,耐热能力佳的SiC在车用逆变器应用应仍属主流,不过各大IDM、车用供应链业者,势必也会思考如何再缩小芯片体积、维持高功率密度,若走回硅基IGBT或采混搭模块方式,在高阶封装的着墨更不可少… Read More Digitimes 【新电子杂志】堆栈式CIS故障分析 多管齐下解决CIS异常 2023-03-01 CIS产品从早期数十万像素,一路朝亿级像素迈进,端有赖于摩尔定律(Moore’s Law)在半导体微缩制程地演进,使得讯号处理能力显著提升。然而同时,却也使得这类CIS产品在研发阶段若遇到异常(Defect)现象时,相关故障分析困难度大大提升… Read More 新电子杂志 1 2 3 4 5 6 … 11