首頁 媒体报导 媒体报导 2017-06-05by admin 【新电子杂志】从材料晶体结构强化先进封装 EBSD精准解析掌握封装可靠度 2023-05-01 随着先进工艺的发展,芯片尺寸已经接近1奈米的物理极限,摩尔定律正步入尾声,而先进封装技术已成为下一个关键发展方向。尤其是具备高度芯片整合能力的「异质整合」封装技术,已成为超越摩尔定律的重要技术之一。但是,异质整合的先进封装技术,也面临到许多可靠度上的疑难杂症,需要进行前期的验证分析以确认研发质量… Read More 新电子杂志 【新电子杂志】自动量测精准分析先进工艺参数 TEM量测助2nm工艺不卡关 2023-04-20 当半导体工艺逐渐缩小至3nm甚至2nm节点(Node),精准量测每个关键参数,并以大数据(Big Data)技术优化生产方法,对于改善工艺良率至关重要。但传统手动量测方法效率低、误差大,成本又高。因此,唯有透过自动量测,才能快狠准取得正确参数… Read More 新电子杂志 【新通讯组件杂志】卫星组件点石成金术 完整测试验证成就太空梦 2023-03-20 iPhone 14开启卫星直连服务,2023正式发表的Android 14也传言将导入相关服务,低轨道卫星产业化如火如荼,台湾资通讯通讯产业摩拳擦掌,希望在产业链中占有一席之地,然而航天产业对于电子组件的要求高,几乎是所有应用领域最严苛的,如何取得… Read More 新电子杂志 【Digitimes x IC之音】解读半导体景气密码 2023-03-16 宜特很荣幸受到IC之音节目邀请,从宜特的验证分析服务谈到2023年科技产业趋势,本次邀请到可靠度工程处副总经理曾劭钧为您开讲,内容丰富精彩,欢迎前往连结收听喔!… Read More Digitimes x IC之音 【DIGITIMES】Tesla用封装改善散热可能性增 宜特手握AEC会员优势 2023-03-13 Tesla号称要减少碳化硅(SiC)功率组件用量75%,业界认为,耐热能力佳的SiC在车用逆变器应用应仍属主流,不过各大IDM、车用供应链业者,势必也会思考如何再缩小芯片体积、维持高功率密度,若走回硅基IGBT或采混搭模块方式,在高阶封装的着墨更不可少… Read More Digitimes 【新电子杂志】堆栈式CIS故障分析 多管齐下解决CIS异常 2023-03-01 CIS产品从早期数十万像素,一路朝亿级像素迈进,端有赖于摩尔定律(Moore’s Law)在半导体微缩制程地演进,使得讯号处理能力显著提升。然而同时,却也使得这类CIS产品在研发阶段若遇到异常(Defect)现象时,相关故障分析困难度大大提升… Read More 新电子杂志 【Digitimes】掌握2023年AEC新标准 宜特科技助攻台湾电子厂抢进车载市场 2023-02-02 智慧化是汽车产业最重要的趋势之一,台湾作为科技重镇,无论是技术或服务能力都位居全球领先群,不少厂商乘此优势抢攻市场,不过汽车的安全规范十分严苛,且标准法规持续更新,必须紧盯标准制定协会的动态,方能获得客户认可,顺利取得订单…. Read More Digitimes 【新电子杂志】三防胶材带来硫化腐蚀风险 验证平台守护PCB质量 2023-02-01 当电子设备需要在恶劣的环境运作时,选择三防胶的涂布通常是组装、系统等厂商普遍采用的解决方案。本期的宜特小学堂,将介绍电子产品腐蚀的解决方案-三防胶,并剖析为何已采用三防胶涂布的电子产品仍然发生硫化腐蚀失效?… Read More 新电子杂志 【新电子杂志】精准揪出工艺缺陷 奈米电性量测明察秋毫 2023-01-01 先进工艺中的故障分析,对于研发与产能来说更是至关重大,但组件尺寸越做越小,如何在仅有数奈米的微小尺度下,进行晶体管的特性量测以及缺陷处定位则成为了一大难题… Read More 新电子杂志 1 2 3 4 5 6 … 11