
当不肖芯片通路商拿假IC鱼目混珠充当真品贩卖,劣质芯片使得产品良率亮红灯,进而冲击公司信誉与形象,采购方该如何是好?宜特归纳出鉴别真假芯片可留意的内容,包括组件编号、日期、制造商、焊接脚等外观/封装型式…

进行板阶可靠度BLR测试前,须先制作PCB测试板,藉此仿真Package组件组装于PCB时可能出现的锡球焊接问题。PCB测试板本身材料/厚度/走线层面等,不仅须遵照国际规范要求,更是影响可靠度测试结果的关键。到底PCB设计有哪些Know How…

宜特可靠度验证实验室时常收到许多客户询问,执行HTOL实验后并计算完MTTF与λ,其数值该如何判读与运用?而 MTTF 或MTBF差别在哪,应该要使用哪一种参数呢?

当IC失效时,想分析其中一颗组件或Die的异常状况,又碍于SiP、MCM内部打线太过复杂,将导致进行电性测试时,容易受到其他芯片或组件影响,造成判定困难。如何避开其他组件的干扰,正确判定测试结果…

先进工艺的样品Defect若过于分散,想顾及每个位置,一般研磨手法进行去层风险较高,可能无法兼顾,该如何处理?透过PFIB去层,不仅可以边切边拍,针对大范围的结构观察,不仅可完整呈现欲观察之结构,蚀刻效率更是传统Dual-Beam FIB的20倍以上,可有效缩短分析速率…

HDMI、PCIe、USB…等标准,已成为各式电子设备必要规格,有线通讯标准互联互操作性,成为产品设计重点,尤其在网络时代,消费者不佳的使用体验将被快速放大,因此初期就做好完善的互联互通测试,才能降低后续的…