首頁 技术文库 技术文库 2017-05-28by admin 宜特跨攻MOSFET晶圆后端处理集成服务 2018-06-29 MOSFET组件供不应求,IDM又产能满载,交期大幅拉长怎么办?完成了晶圆薄化与表面处理,后续又得将晶圆转运去做CP和切割,有没有一次就做到好的厂商? Read More 晶圆减薄、MOSFET IC发生EOS,烧毁区如何找? 2018-06-14 当组件遇上了超过所能负荷的电压或电流时,组件很容易就烧毁造成过度电性应力的问题,出货在即,组装厂要IC设计快点给出解决方案。身为IC设计者,如何速找烧毁区,进行电路设计修改?奉上经典案例,三步骤,让您组件EOS异常点无所遁形… Read More EOS、失效分析、Defect 进入AI智慧汽车供应链必备-国际可靠性质量车规 五步骤一次解析 2018-05-08 汽车产业,新技术往往不会放入畅销的车款上,而是把成熟、可靠度质量佳的产品导入。如果你的目标客户或是终端客户为车厂/Tier 1,那么提高产品的可靠度将会是重要路径… Read More ISO 26262、AEC-Q、可靠度设计验证 六大重点,秒懂车用多芯片组件AEC-Q104规范 2018-04-10 MCM、SIP等复杂多芯片供货商,应依AEC-Q100,还是ISO16750进行车用测试?车用IC上板至PCB的焊点可靠度测试(BLR),又应依循哪一规范?… Read More AEC-Q104、可靠性设计验证 如何厘清是否为封装缺陷造成IC异常 2018-03-27 IC出现漏电、短路等异常电性问题,来宜特进行IC开盖(De-cap),准备做InGaAs、EMMI、OBIRCH等电性量测前,却发现IC开盖后,所有的电性异常问题都消失了…. Read More 失效分析、Defect Tier 1车厂力推 车用组件厂必测-板阶可靠性温湿度复合式振动 2018-03-01 您了解车电组件上板后的焊点可靠度(BLR)的重要性吗?您知道Tier 1车厂在BLR测试规范,将温湿度复合式振动纳入最关键的测项… Read More 复合式振动、可靠性设计验证 1 … 11 12 13 14 15 … 17