MTTF和MTBF都是可靠度寿命预估的一种标准，差别在于MTBF运用于可维修或单体成本昂贵的产品(如计算机、飞机、汽车)，MTTF运用于不可维修或单体成本较便宜的产品(如集成电路、半导体组件)。

• MTBF(Mean Time Between Failure): 称为平均失效间隔时间，多用于系统类产品，一般常用来看同一产品，在相邻两次失效之间的平均工作时间。
• 例如一台计算机主机，是一个集合多产品的系统，里面包含了电源供应器/主板/硬盘/显示适配器/内存…etc，假设电源供应器异常，会导致此计算机主机(系统)失效无法使用。在修复后，过了一段时间，因为内存异常，亦再次导致此计算机主机失效无法使用。而两次失效(电源供应器/内存)的间隔时间，即可称为此计算机主机的MTBF。
• MTTF(Mean Time To Failure) :称为平均失效平均时间，与MTBF的差异在于，常用于在不可维修的产品，像是集成电路(IC)此类的单体组件。此类组件因产品失效后，并无法透过维修，将组件本体的功能恢复。
• 例如IC因长时间使用的金属迁移老化导致而失效，该失效的IC，并无法透过维修后复原，仅能直接更换。

当宜特实验室协助您执行完HTOL实验时，您的终端客户(End-customer)往往会要求计算其MTTF与λ的数值。如何计算呢?

我们可以参考电子设备工程联合委员会(Joint Electron Device Engineering Council, JEDEC)JEP001-3A规范内所提到的计算式，并进一步计算出数值：

宜特举例说明，假设使用实验条件如下：

实验后若样品失效数为0 ea，且在90%信心水平下，可以计算出其平均故障率函数λ与其倒数MTTF为：

呈上计算，多数人的疑问在于，λ = 275.83 FITs或MTTF = 3,625,418 Device Hours这两种数值，要如何应用这个数值？这个数值是好是坏？

首先要理解λ及MTTF的定义。实际上要计算短时间内的故障率，非常困难，代表意义也不高，因此，会选择一段时间区间的平均故障率来做计算，例如1,000Hrs / 1个月或1年作为时间单位，一般会用平均故障程度(λ) = 期间总故障数 / 总工作时数(=总样品数*工作时数) 来做为结果的呈现，因故障率非常低，所以会采用FIT来作为单位( FIT=10-9 )。MTTF则为λ的倒数，也就是到达故障的平均时间。但要留意的是，MTTF的单位是Device hours，不是Hours。

其次可以参考规范JESD74A内，对于CDF(Cumulative Distribution Function) 或可称累积的失效分布函数的计算式：

透过此计算式，在带入需求的预估时间后，可以计算出各时间下，预估的群体累积失效率。

而透过下图一，我们可以了解，每个时段的预估群体累积失效率。像是5年的群体累积失效率达到1.2%，10年的群体累积失效率达到2.39%。藉由此数值，您可比对是否符合终端客户(End-customer)需求，或各公司内部规定，是否可以允收此数值。

在了解MTTF、λ、累积失效率之间的换算后，我们再拿到终端客户(End-customer)的测试要求之后，就可以依此条件来设计适合的测试条件。

以下范例说明，假设要求的结果为10年(24Hrs都在使用的情况)的失效率在1%以下：
首先透过CDF计算：

即可得知需要达到λ ≦ 114 FITs即可符合要求。

再以此目标来搭配其他实验条件，像是有多少时间可以完成测试？有多少样品可以测试？电压与温度可以增加应力(Stress)至何种条件？可以接受多少失效？想针对的Fail model？

例如下表一所提供的三种可靠度测试范例条件，其计算出的结果，都可以符合λ ≦ 114 FITs，符合到客户最初的需求。可调整的参数是复合性的，建议在设计可靠度实验条件时，可依当时的环境条件下，进行微调，设计符合当下需求的实验条件。