首頁 Service 自動曲線追蹤儀(Auto Curve Tracer, ACT) 自動曲線追蹤儀(Auto Curve Tracer, ACT) 2017-07-03by tanja I-V Curve 电特性量测原理是 ,利用自动曲线追纵仪电特性量测的方式,快速计算阻值,藉此确认各脚位(Pin)关系并实时筛检出异常(Open / Short),另可产出曲线图文件。 IC Repackage移植技术 协助先进封装芯片检测无碍 iST 宜特能为你做什么 提供DC组件及导体组件特性量测、电性失效分析量测(EFA, Electrical Failure Analysis)、测I-V、量曲线及曲线绘图(IV Curve),其特点是可一次量测样品各脚位的阻値差异,脚数最多达最多1024 Pins 。 iST 宜特服务优势1支持度高,建置多种封装形式的Socket。 2快速便利,可快速比对出电性异常的脚位,并分类故障状况。 3弹性量测方式,有多种量测模式可选择。(EX: Pin-all, Pin-pin)。 案例分享曲线图文件自动比对结果 可产出曲线图文件 完成实验后可自动比对结果,分类异常状况(O/S)并确认好坏品的差异。 设备极限 最多1024 Channels、最高电压10 V、电流限制2.5 uA~ 500 mA。 联络窗口 | email:marketing_chn@istgroup.com 您可能有兴趣的其他服务 半导体组件参数分析(I-V Curve) 点针信号量测(Probe) 扫描式电子显微镜 (SEM) 原子力显微镜(AFM) 剖面/晶背研磨(Cross-section & Backside)