老化测试板(Burn-in Board)是什么?应用于工艺哪一阶段?
老化测试板(Burn-in Board)是进行 Burn-in 测试的关键治具,主要应用于在高温、高电压等加速老化条件下,对半导体组件进行寿命筛选与早期失效侦测。透过 Burn-in 测试,有助于在产品出货前排除潜在的早期失效(infant mortality),大幅提升产品的可靠度与稳定性。Burn-in Board 特别适用于对长期稳定性要求极高的应用领域,例如车用电子、工业控制系统、AI 加速器与服务器平台。
本文将介绍 老化测试板(Burn-in Board) 的功能、类型、用途与优势。
iST宜特老化测试板(Burn-in Board)设计优势
- 车用芯片 Burn-in 测试
- AI 加速器寿命验证
- 服务器与通讯组件的高温寿命测试
- 工控用 ASIC 的早期失效过滤
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