首頁 Service 半导体组件参数分析(I-V Curve) 半导体组件参数分析(I-V Curve) 2017-06-01by admin 利用SMU(Source measurement unit)供应电压或电流,验证与量测半导体组件特性(Diode I-V Curve、MOSFET特性曲线等)。 iST 宜特能为你做什么 可协助验证及量测半导体电子组件的参数与特性,如:电容-电压(C-V)、电压-电流(I-V)、电阻(R)、电容(C)、电感(L)和讯号波形(Waveform)等。藉此了解组件的失效行为,以利后续的分析动作。 iST 宜特服务优势1快速便利 2设备多元,可依据需求选择不同设备。 3高分辨率,SMU可量测到10 fA。 4搭配点针台可进行各种封装型式的量测。 案例分享I-V Curve案例 应用范围设备能量 设备极限 DC组件及导体组件特性量测 电性失效分析量测(EFA, Electrical Failure Analysis) 辅助后续电性测试(Force V measure I / Force I measure V) Keysight B1500A Keithley 4200 Keithley 2450 HP 4156A C-V最高电压25V、最高频率 5 MHz。 I-V最多4 Channels、最高电压200 V、最大电流1A,功率为20 W。 联络窗口 | email:marketing_chn@istgroup.com 您可能有兴趣的其他服务 自动曲线追踪仪(Auto Curve Tracer, ACT) 点针信号量测(Probe) ESD保护组件之TLP电特性量测 原子力显微镜(AFM)