利用SMU(Source measurement unit)供应电压或电流,验证与量测半导体组件特性(Diode I-V Curve、MOSFET特性曲线等)。
利用SMU(Source measurement unit)供应电压或电流,验证与量测半导体组件特性(Diode I-V Curve、MOSFET特性曲线等)。
可协助验证及量测半导体电子组件的参数与特性,如:电容-电压(C-V)、电压-电流(I-V)、电阻(R)、电容(C)、电感(L)和讯号波形(Waveform)等。藉此了解组件的失效行为,以利后续的分析动作。
快速便利
设备多元,可依据需求选择不同设备。
高分辨率,SMU可量测到10 fA。
搭配点针台可进行各种封装型式的量测。