首頁 Service ESD 保护组件之 TLP 电特性量测 ESD 保护组件之 TLP 电特性量测 2020-12-08by admin TLP传输线脉冲产生器(Transmission Line Pulse),可针对ESD保护组件的电特性进行量测与验证。原理为将测试脉冲(TLP)加到被测组件(Device Under TEST, DUT),步骤为:1对电路中的传输线路充电 2. 传输线路对DUT放电 。此测试将从小电压脉冲开始,加大电压到此DUT失效(FAIL)为止。 iST 宜特能为你做什么 过往ESD保护组件的性能评价方法,仅能告知其结果为PASS 或 FAIL,无法提供电特性,以进行更有效的设计变更。TLP装置则以 PULSE方式量测ESD保护电路,可提供该电路I-V特性曲线;再搭配传统ESD测试结果,可迅速查知电路的设计弱点,减少开发时间并降低开发成本。 案例分享 TLP量测曲线(TLP CURVE)Snapback(骤回)保护结构 Snapback保护装置会形成一个低阻抗通道用来排出ESD瞬间放电的能量。 设备极限 样品量测IV Curve最大电压200 V,TLP装置Pulse最大电压为2500 V,电流50A。 联络窗口 | email:[email protected] 您可能有兴趣的其他服务 芯片去层(Delayer) 芯片开盖去胶(Decap) 扫描式电子显微镜 (SEM) 原子力显微镜(AFM) 静电放电/过度电性应力/闩锁试验(ESD / EOS / Latch-up)