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by admin
可靠性测试后,组件高电阻值异常,失效点如何找
2017-08-17

计算机仿真组件上板应力匹配正常,可靠度实测却过不了,是组件与板材匹配问题?还是封装锡球的耐受度不够?一个以晶圆级芯片尺寸封装(WLCSP)的组件,进行上板可靠度….

HDR高动态范围影像不失真,亮度该如何调校
2017-06-08

HDR(高动态范围)已成电视标准规格,身为显示工程师的您,已依标准规范进行设定,画面为何仍有不连续的轮廓问题?是EOTF设定出错、还是芯片商设计有误,该如何调校…

如何速找IC漏电源(Hot Spot)
2017-05-23

通讯芯片和以硅元素组成的芯片相比,最大不同在于通讯组件封装形式较单纯,使用层数较少,在找失效点前的样品制备上,不适合用delayer方式..

量测粗糙度一定要破坏整片晶圆
2017-04-25

在晶圆尚未上电路(Pattern)之前,须了解晶圆是否平整,得以确认后续Layout状况。当晶圆上了电路之后,更需监控粗糙度数据,才能确保后续上板后的质量…

如何将 HDR 技术运用至显示器,使高画质视频传输不失真
2017-04-21

对于影像显示技术而言,追求贴近人眼所能见到的真实世界是必然趋势。在 4K 电视技术的普及、广色域的使用…

3D 组件失效,用这三步骤,defect 立马现形
2017-03-29

为因应电子产品对效能需求,因此有了3D芯片堆栈技术产生。但问题来了,这样的技术所产生的组件,在失效后分析也更加困难,传统的封装组件只需在XY面的2D平面定位,即能有效找出失效位置,但3D组件还需要考虑到Z轴位置,且芯片在上下堆栈重迭下,更不容易找到失效位置…