首頁 技术文库 技术文库 2017-05-28by admin 可靠性测试后,组件高电阻值异常,失效点如何找 2017-08-17 计算机仿真组件上板应力匹配正常,可靠度实测却过不了,是组件与板材匹配问题?还是封装锡球的耐受度不够?一个以晶圆级芯片尺寸封装(WLCSP)的组件,进行上板可靠度…. Read More 可靠性设计验证、失效分析、Defect HDR高动态范围影像不失真,亮度该如何调校 2017-06-08 HDR(高动态范围)已成电视标准规格,身为显示工程师的您,已依标准规范进行设定,画面为何仍有不连续的轮廓问题?是EOTF设定出错、还是芯片商设计有误,该如何调校… Read More 信号测试、HDR 如何速找IC漏电源(Hot Spot) 2017-05-23 通讯芯片和以硅元素组成的芯片相比,最大不同在于通讯组件封装形式较单纯,使用层数较少,在找失效点前的样品制备上,不适合用delayer方式.. Read More 失效分析 量测粗糙度一定要破坏整片晶圆 2017-04-25 在晶圆尚未上电路(Pattern)之前,须了解晶圆是否平整,得以确认后续Layout状况。当晶圆上了电路之后,更需监控粗糙度数据,才能确保后续上板后的质量… Read More 表面分析、材料分析 如何将 HDR 技术运用至显示器,使高画质视频传输不失真 2017-04-21 对于影像显示技术而言,追求贴近人眼所能见到的真实世界是必然趋势。在 4K 电视技术的普及、广色域的使用… Read More 信号测试、HDR 3D 组件失效,用这三步骤,defect 立马现形 2017-03-29 为因应电子产品对效能需求,因此有了3D芯片堆栈技术产生。但问题来了,这样的技术所产生的组件,在失效后分析也更加困难,传统的封装组件只需在XY面的2D平面定位,即能有效找出失效位置,但3D组件还需要考虑到Z轴位置,且芯片在上下堆栈重迭下,更不容易找到失效位置… Read More 失效分析、Defect 1 … 13 14 15 16 17