发布日期:2022/5/10芯片真假
发布单位:iST宜特
市场芯片荒未解,假IC猖獗流窜,芯片真伪实在难辨,采购方该如何是好?
「旧组件回收,包装后当新的卖」、「低规格裸Die,被封装在高规格的Package出货」、「低规组件编号抹除,重新打上更高规格组件编号」,以上状况,在芯片通路市场一直时有所闻,此问题在2021年更加猖狂,因Covid-19疫情,在家办公等数字转型趋势加速扩大,全球历经了一场始料未及的「芯片荒」,影响扩及个人计算机(PC)、手机、数据中心及其他终端消费型电子产品。来到2022年,消费型芯片短缺现象已逐步缓解,但工业用及车用IC缺货的问题仍就存在。当不肖芯片通路商拿假IC鱼目混珠充当真品贩卖,劣质芯片使得产品良率亮红灯,进而冲击公司信誉与形象,采购方该如何是好?
该如何解决此状况呢? 在宜特实验室累积多年厚实的半导体验证分析经验里,我们归纳出鉴别芯片真伪可以留意的内容,包括组件编号、日期、制造商、焊接脚等外观/封装型式,以及内部IC打线、晶粒(Die) 尺寸,更深入的确认电性特征等,简单五步骤的分析流程,让芯片是真是假速现形。
芯片真假
芯片真假
图一:芯片真伪分析解决方案五步骤
第一步骤 : 外观检查
透过3D OM,确认样品的外观、厚度、标记(marking)、流水号、封装样式等是否相同(图二)
图二: 透过3D-OM,确认marking及封装材料的各项参数。
第二步骤 : 打线确认
藉由2D-XRay检查样品内部的打线或封装型式是否相同。如果有机会照到Die,也可以量测其尺寸与厚度来进行比较(图三)。
图三: 透过2D X-Ray,确认打线、Die尺寸与厚度。
第三步骤 : 电性量测
将所有引脚分别接地(Pin to GND),或进行I-V Direct Current(DC)量测。例如我们可以设定固定电压范围及限电流,快速量测比对样品各脚位的电性特征(图四)。
图四: 透过I-V Curve,确认各脚位的电性特征是否有差异。
第四步骤 : 芯片开盖
将样品开盖去除黑胶(Decap),藉以观察Die面的电路布局状况、Die的尺寸与打线的线径,同时,也可以检查芯片制造商的logo是否相同(图五)。
图五: decap后的各项参数量测
第五步骤 : 工艺比对
使用双束聚焦离子束(Dual Beam FIB)工具,在欲比对的样品相同处的密死循环( seal ring),或指定位置进行断面(剖面)观察,藉以确认工艺信息是否相同 (图六)。
图六:透过DB-FIB,确认样品的工艺信息。
本文与长久以来支持宜特的您,分享经验,若您有芯片真伪分析需求,或是想要更进一步了解细节,请不要犹豫,欢迎电洽+886-3-579-9909分机6775 施先生(CY Shih); Email: IST_FA_IAD@istgroup.com;marketing_tw@istgroup.com