MLO 是什么？适用于哪些测试阶段与产品？
探针卡（Probe Card）是一种应用于半导体晶圆测试阶段（Wafer Sort Test/Chip Probing） 的关键接口工具，在半导体晶圆完成前段工艺后，分割、封装之前，需进行精密的电性验证，确保IC达到量产标准。采用探针卡 (Probe Card)，即可将晶圆上的晶粒与自动测试设备(ATE)测试装置建立精确连接，展开电性测试。这步测试，可有效提早筛除不良品，确保测试流程稳定高效，进而提升后段封装与测试效率及量产良率。
为什么选择 iST 设计制作MLO？
iST宜特MLO设计制作优势
MLO设计制作类型与适用情境
| 类型 | 适用情境 |
|---|---|
| 垂直探针卡（Vertical Probe Card） | MEMS 探针、车用芯片测试、高频小 pitch |
| Fan-out Interposer 结构 | 多晶粒整合、中介层封装 |
| 工程载板（Engineering Substrate） | NPI 客制、少量多样工艺、模块验证 |
多层有机载板(MLO)
MLO 导入测试板
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