芯片 在开发初期往往都存在着一些缺陷，FIB(Focused Ion Beam, 聚焦离子束) 电路修改服务，除了可提供了 芯片 设计者直接且快速修改 芯片 电路，同时亦可在复杂线路中做信号撷取点，让设计者可经由探针 (Probe station) 或 E-beam 直接观测 芯片 内部信号，如此可降低重新投片 (光罩) 所耗费的成本，缩短原型 (Prototype) 验证时间。