低压雷击测试(Surge Test)为电磁干扰能力之测试服务，可测试电子组件、电子线路板和电子设备等微电子系统产品，藉此检验是否能抵抗脉冲和噪声的干扰。
iST 宜特能为你做什么
可针对模块及组件进行测试，亦可搭配Probe Station点测与参数分析仪进行验证。可输出波形包括以下:
- 1.2 / 50 us (8 / 20 us)
- 符合IEC 61000-4-5 规范
- Open voltage waveform : 1.2 / 50 us
- Short circuit current waveform : 8 / 20 us (output impedance : 2 Ω)
- 5 / 50 us
- 10/ 100 us
- 10 / 200 us
1.2/50 us
10/100 us
5/50 us
10/200 us
服务优势
- 支持度高，建置多种封装形式的Socket
- 可搭配Probe Station进行点针测试
设备极限
- 电压输出-200V~+200V