透过OM or SEM，配合探针(Prober)搭接于IC线路上，再外接各类电性量测设备，以输入讯号或量测电性曲线。
iST 宜特能为你做什么
在真空环境下，以点针(Prober)进行电性量测，避免外界环境的噪声干扰，对于半导体组件失效分析，均能提供直接且快速的信息。
iST 宜特服务优势
案例分享
可在不同的包装下进行量测，例如BGA Ball, Pad, FIB Pad
Vgs 对Ids的曲线图，当晶体管的Vds电压固定时，变动Vgs则Ids亦会改变，可以得到一条Vgs 对Ids的曲线图。此曲线可以研究在信道中的载子(电子或电洞)是如何被提升到传导带，而信道形成的临界电压及线性区的临界电压都可以被测得，可研究晶体管相当重要的特性曲线。
- 组件电特性分析
- 微机电及IC微结构研究
- 可应用在高频电路及FIB Probing PAD及Active Probe (500 MHz)。
- 实验分析样品使用EMMI / OBIRCH / TLP / ESD / Curve Tracer等机台无适当治具时，可用点针方式提供讯号之输入输出。
- Wafer可点针进行各项测试。
- 实验室另架设有 Laser System，可做Laser Cut。